물품설명
ㅇ 물품개요
- 생산된 반도체 웨이퍼 및 chip 등의 불량여부를 검사하는 probe card에 부착하여 사용하며, 테스트 대상물에 직접 접촉하는 접속단자인 probe pin
- 용도 : probe pin이 웨이퍼에 접촉하면서 전기를 보내고 돌아오는 신호에 따라 양불량을 판별함
- 재질 : 팔라튬코발트, 금, 팔라듐, 구리, 로듐 등의 금속에 도금
- 규격 : 4.4㎜ × 56µm

ㅇ 제조공정
- 세라믹 기판에 미세패터닝 → 패턴 형상대로 몰드 제작 → 몰드에 다층도금 공정으로 pin제조 → 에칭공정으로 몰드 제거하여 제품 분리

결정사유
ㅇ 관세율표 제90류 주 제2호 가목에서는 "부분품과 부속품이 제84류·제85류·제90류·제91류 중의 어느 호에 속하는 물품인 경우에는 각각 해당 호로 이를 분류한다"고 규정하고 있음

ㅇ 관세율표 제8536호에 "전기회로의 개폐용·보호용·접속용 기기와 광섬유용·광섬유 다발용·케이블용 커넥터"가 분류되고
- 같은 호 해설서에 "전기적 접속을 용이하게 하기 위하여 전기배선의 끝에 부착시키도록 설계된 작은 금속부품이 포함된다"하고 설명하고 있음

ㅇ 본 물품은 팔라튬코발트, 금, 팔라듐, 구리, 로듐 등의 소재를 도금하여 만든 핀형태의 물품으로서 기기와 테스트 대상물 사이의 전기접속 역할을 하는 물품으로, 반도체 웨이퍼 등의 검사용 기기에 부착되어 사용된다 할지라도 기기의 부분품이 아닌, 관세율표 제90류 주2호 가목에 따라 해당 호에 분류하여야 함

ㅇ 본 물품은 '그 밖의 접속용 기기'이므로 관세율표 해석에 관한 통칙 제1호 및 제6호에 따라 제8636.90-9090호에 분류함